Cursos de Metrología Avanzada, Medición Óptica y Digitalizado
1er Plan Formativo Europeo 2008
Módulo 1: Metrología Avanzada
Descárguese la información detallada del curso: Módulo
1
Módulo 1.1: Nuevos desarrollos en metrología virtual 3D y digitalizado óptico
| 1er
Trimestre |
Barcelona |
8
de enero de 2008 |
|
Bilbao |
9
de enero de 2008 |
| 2º Trimestre |
Barcelona |
1
de abril de 2008 |
|
Bilbao |
2
de abril de 2008 |
| 4º Trimestre |
Barcelona |
23
de septiembre de 2008 |
|
Bilbao |
24
deseptiembre de
2008 |
Módulo 2: Digitalizado Optico 3D
Descárguese la información detallada del curso: Módulo
2
Módulo 2.1: Técnicas de metrología Virtual por digitalizado óptico 3D
| 1er Trimestre |
Barcelona |
15 de enero de 2008 |
|
Bilbao |
16 de enero de 2008 |
| 2º Trimestre |
Barcelona |
8 de abril de 2008 |
|
Bilbao |
9 de abril de 2008 |
| 4º Trimestre |
Barcelona |
7 de octubre de 2008 |
|
Bilbao |
8 de octubre de 2008 |
Módulo
2.2: Métodos de inspección automatizada mediante digitalizado óptico
3D
| 1er Trimestre |
Barcelona |
22 de enero de 2008 |
|
Bilbao |
23 de enero de 2008 |
| 2º Trimestre |
Barcelona |
15 de abril de 2008 |
|
Bilbao |
16 de abril de 2008 |
| 4º Trimestre |
Barcelona |
14 de octubre de 2008 |
|
Bilbao |
15 de octubre de 2008 |
Módulo 2.3: Ingeniería inversa mediante digitalizado óptico
3D
| 1er Trimestre |
Barcelona |
29 de enero de 2008 |
|
Bilbao |
30 de enero de 2008 |
| 2º Trimestre |
Barcelona |
29 de abril de 2008 |
|
Bilbao |
30 de abril de 2008 |
| 4º Trimestre |
Barcelona |
21 de octubre de 2008 |
|
Bilbao |
22 de octubre de 2008 |
Módulo 3: Estándares en metrología avanzada
Descárguese la información detallada del curso: Módulo
3
Módulo 3.1: I++DME: el estándar para equipos de metrología
dimensional
| 1er Trimestre |
Barcelona |
5 de febrero de 2008 |
|
Bilbao |
5 de febrero de 2008 |
| 2º Trimestre |
Barcelona |
6 de mayo de 2008 |
|
Bilbao |
7 de mayo de 2008 |
| 4º Trimestre |
Barcelona |
11 de noviembre de 2008 |
|
Bilbao |
12 de noviembre de 2008 |
Módulo 3.2: Estándares en sistemas de medición dimensional
| 1er Trimestre |
Barcelona |
12 de febrero de 2008 |
|
Bilbao |
13 de febrero de 2008 |
| 2º Trimestre |
Barcelona |
13 de mayo de 2008 |
|
Bilbao |
14 de mayo de 2008 |
| 4º Trimestre |
Barcelona |
18 de noviembre de 2008 |
|
Bilbao |
19 de noviembre de 2008 |
Módulo 3.3: Estándares en sistemas de medición óptica
| 1er Trimestre |
Barcelona |
19 de febrero de 2008 |
|
Bilbao |
20 de febreo de 2008 |
| 2º Trimestre |
Barcelona |
20 de mayo de 2008 |
|
Bilbao |
21 de mayo de 2008 |
| 4º Trimestre |
Barcelona |
25 de noviembre de 2008 |
|
Bilbao |
26 de noviembre de 2008 |
Módulo 4: Aplicaciones Industriales de metrología avanzada
Descárguese la información detallada del curso: Módulo
4
Módulo 4.1: Control de Calidad en Estampación de chapa
| 1er Trimestre |
Barcelona |
26 de febrero de 2008 |
|
Bilbao |
27 de febrero de 2008 |
| 2º Trimestre |
Barcelona |
27 de mayo de 2008 |
|
Bilbao |
28 de mayo de 2008 |
| 4º Trimestre |
Barcelona |
2 de diciembre de 2008 |
|
Bilbao |
3 de diciembre de 2008 |
Módulo 4.2: Nuevos métodos de metrología óptica
en fabricación aeronáutica
| 1er Trimestre |
Barcelona |
4 de marzo de 2008 |
|
Bilbao |
5 de marzo de 2008 |
| 2º Trimestre |
Barcelona |
3 de junio de 2008 |
|
Bilbao |
4 de junio de 2008 |
| 4º Trimestre |
Barcelona |
9 de diciembre de 2008 |
|
Bilbao |
10 de diciembre de 2008 |
Módulo 4.3: Nuevos métodos de metrología automatizada
en fundición e inyección
| 1er Trimestre |
Barcelona |
11 de marzo de 2008 |
|
Bilbao |
12 de marzo de 2008 |
| 2º Trimestre |
Barcelona |
10 de junio de 2008 |
|
Bilbao |
11 de junio de 2008 |
| 4º Trimestre |
Barcelona |
16 de diciembre de 2008 |
|
Bilbao |
17 de diciembre de 2008 |
